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分析颗粒的方法和装置[发明专利]

来源:一二三四网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:分析颗粒的方法和装置专利类型:发明专利发明人:M·V·特维格

申请号:CN200480018233.9申请日:20040427公开号:CN1836160A公开日:20060920

摘要:一种分析含有固体颗粒、烃和酸性物质的气体的方法,包括将所述气体的试样和用于吸收酸性物质的碱性材料(52)相接触、对所述进口气体进行颗粒分析和对离开所述碱性材料的气体进行颗粒分析。

申请人:约翰逊马西有限公司

地址:英国伦敦

国籍:GB

代理机构:中国专利代理(香港)有限公司

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