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集成电路装置及其形成方法[发明专利]

来源:一二三四网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:集成电路装置及其形成方法专利类型:发明专利

发明人:刘筱函,李禾培,江忠祐,陈柏年,林志勇申请号:CN201910880405.1申请日:20190918公开号:CN110911493A公开日:20200324

摘要:本发明实施例提供包括具有电容的集成电路装置及其形成方法。在一些范例中,集成电路装置包括基板与设置于基板上的沟槽隔离材料。隔离结构设置于沟槽隔离材料上。第一电极设置于隔离结构上,且第二电极设置于隔离结构上。电容介电质设置于介于第一电极与电二电极间的隔离结构上。在这些范例中,隔离结构包括设置于沟槽隔离材料上的第一硬遮罩、设置于第一硬遮罩上的介电质以及设置于介电质上的第二硬遮罩。

申请人:台湾积体电路制造股份有限公司

地址:中国台湾新竹市

国籍:CN

代理机构:隆天知识产权代理有限公司

代理人:黄艳

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