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合肥工业大学《半导体器件物理》试卷(一)

来源:一二三四网
《半导体器件物理》试卷(一)

一、填空(共32分,每空2分)

1、PN结电容可分为 和 两种,它们之间的主要区别 。

2、当MOSFET器件尺寸缩小时会对其阈值电压VT产生影响,具体地,对于短沟道器件对VT的影响为 ,对于窄沟道器件对VT的影响为 。

3、在NPN型BJT中其集电极电流IC受 电压控制,其基极电流IB受 电压控制。 4、硅-绝缘体SOI器件可用标准的MOS工艺制备,该类器件显著的优点是 。 5、PN结击穿的机制主要有 等几种,其中发生雪崩击穿的条件为 。 6、当MOSFET进入饱和区之后,漏电流发生不饱和现象,其中主要的原因有 , 和 。

二、简述(共18分,每小题6分) 1、Early电压VA。 2、截止频率f T。 3、耗尽层宽度W。

三、分析(共20分,每小题10分)

1、对于PNP型BJT工作在正向有源区时载流子的输运情况;

2、热平衡时突变PN结的能带图、电场分布,以及反向偏置后的能带图和相应的I-V特性曲线。(每个图2分)

四、计算推导(共30分,每小题15分)

1、MOSFET工作在非饱和区时的Sah方程推导,并求解跨导gm和沟道电导gD,说明提高gm的具体措施;(每步2分,电导计算4分,措施3分)

2、在NPN双极型晶体管正向有源区工作时,,

,试求该器件正向电流增益,并说明提高的几种途径。其

中,6分 )

,。(计算推导9分,措施

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